RHEED即Reflection High Energy Electron Diffraction,是表面物理膜层生长的重要表征手段之一,广泛的集成在MBE,PLD,LMBE,MOCVD等外延生长、半导体磊晶设备中。RHEED以一束能量为10~30KeV的高准直性、单色性的电子束作为探束,经电磁透镜偏转后以1-3°的掠射角掠射sample表面,反射形成电子衍射图像。衍射图像可以在一定程度上...
最近搞到一个Kern Swiss Nivel 20双轴倾角计,这是一个测绘用的传感器,内置一个液体水平面,通过光束反射和一个四象限光电探测器来读出液面倾角。这个型号的换代产品是Leica Nivel 210/220,探测原理一样,只是用CCD来进行光点位置读出。技术指标基本一致,但是测量范围扩大了两倍。价格应该在$3000以上。为了确定引脚定义,拆开查看。结果发现引脚定义与github上可以找到资...