前些日子忽然灵机一动的新点子，新的一年分享给大家，权当脑洞大开看个新鲜。

XRF（x射线荧光分析）是一类如今很常用的分析方法，它在原理上和γ能谱几无区别，可以粗略理解为一种工作在x射线波段的能谱，和theremino打过交道的朋友们可能印象比较深，这个团队在以声卡为多道的基础上开发了对于γ射线和x射线的简易探测办法，二者在分界线上的模糊顺理成章地带来了探测和应用上的模糊——薄片NaI和CsI闪烁体应用于元素分析已有半个多世纪的历史，KC761B亦可承担简单的x射线峰值分析；CZT探测器可同时应用于XRF和γ能谱，对α粒子也给出了不凡的精度；普通的pin二极管同样可以实现对γ射线计数和对x射线/β射线/α射线的简单分辨（正如KC761系列的配置和设计，此外在theremino中也有使用pin管测XRF的方案）。

因此，在这个半导体探测器的分辨率已经可以逼近fano limit的好时代里，想到用XRF探头反过来试试γ能谱也就顺理成章了。

还是喜闻乐见的Si-pin探头，厚500μm，在180V@230K下工作。实验过程细节不多，唯一令人刻骨铭心的是500μm厚度带来的超级长的积分时间，想拿出峰形合理的谱图需要极其充足的耐心和稳定的测试环境。

能量响应，迈不过去的大坎：

可以看到，对于500μm厚度的Si-pin，推荐的全能峰效率一般不高于30keV，效率在60keV以上已经很差了，因此只能寄希望于足够高的分辨率带来勉强可见的结果，此外在更高的能区，光子与探测器的作用将不止光电效应，因此干扰和信噪比都进一步下降。

结果

Ba-133:

好在分辨率给面子，表现几近HPGe，在如此之差的效率下仍然可以看到全能峰。

384keV处的峰亦十分明显，这个峰一般在溴化镧的分辨率下才开始与356keV分家，在碘化钠或碘化铯的6-7%分辨率下无法识别。

值得一提的是，半导体探测器特有的线性度优秀体现得淋漓尽致，本文中所有能谱均以Am-241单核素刻度。

线性y轴下的高能区部分，左侧巨大的compton edge不妨改叫compton cliff。

全谱，还能看到高能的一点小尖，已经很惊喜了。

Cs-137：

这个更是过于高能，全能峰几不可见，但给出的分辨率确实很好，不逊色于HPGe，颇给人一种极致的感觉。

侧面入射似乎并没有很明显地提升康峰比，但全能峰分辨率好了近一倍，结果没有保存下来，因为最后几个小时的时候电脑睡眠后在梦中去世了，强制重启之后什么都没剩下。

本文本身只是图一乐，很难想象会有什么实际应用，或许在某种极端的场景下可以作为可选的一种便宜手段吧，最后祝大家2025新年快乐。