射线对CMOS成像元件的影响/简易辐射探测

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~~空空如也

北落师门

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发表于《射线对CMOS成像元件的影响/简易辐射探测》

引用老鼠先生:
诶，这是一个好办法，感觉和光电倍增管探测辐射的原理类似。

按我理解倍增管在某一时刻只能接收一个脉冲，如果有两个以上的粒子同时被闪烁体捕获的话就难分辨了。也许会有高档的算法来区分，这我不懂。
CCD/CMOS因为是阵列，单一像素点在一个采样周期内被两个以上粒子轰击的概率大大减少，只要器件性能够好，效果应该会好很多。

文号 / 816355

北落师门

千古风流

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