实际应该是两条K线+全部轫致辐射谱堆成了一个峰，而在之前测试中可以知道这个能量段的射线受氚管管壁厚度为主的过滤影响很大，估摸着这个合峰的峰值位置对于不同氚管以及测试环境可能会有一点偏差，考虑到这个点本身的能量很低且接近kc761能量探测下限，偏差很大，不便直接引入线性拟合，也许以后可以对60keV以下这段考虑低能分段校准？

也许我应该先去把Am的x段峰弄清楚，那个至少用761外壳材料可以直接测出吸收补偿后的x谱，并且没有轫致辐射连续谱的干扰，理论上是可以通过手动对经pin效率补偿+外壳过滤补偿+分辨率劣化展宽后的加和峰计算出期望显示峰值位置的，好在kc761是γ能谱仪，闪烁体对于这种低能射线默认效率100%，简化效率补偿计算了。