3.6 基线噪声不稳定维修

  在持续通电的测试中，又出现了新问题。即便是没有输入信号，频谱仪的噪声基线也会升高或抖动，在1M和300K RBW时尤其明显，在最差的情况下基线可以离开底噪区，变成一条缓慢上升的水平线，一直到达屏幕顶部，出现这种情况时1本振无法锁相。但故障时可以用力拍打机壳恢复工作，见如下视频：

   首先怀疑的是中频通路部分，会是RBW滤波器或对数放大器的问题吗？从RBW滤波器(Tek称为VR1/VR2模块)的输入注入信号，并敲击RBW滤波器，对数放大器，视频处理等部分，屏幕上显示的基线十分稳定。

   根据根据噪声基线升高时1本振可能无法锁相的现象，进一步怀疑是不是本振偏移而混入中频？于是开始了新一轮的敲击检查，直接测量频谱仪前面板的1和2本振输出，并敲击YTO振荡器附近的区域，将1本振锁相并设定为ZERO SPAN模式，可以观察到敲击会导致1本振有漂移（但1本振漂移问题应该不大），随后测量2本振，仍是敲击YTO附近区域，这次发现了异常问题：

  在敲击时，可以观察到本应该保持稳定的2本振频率出现了漂移，并且不能随着停止敲击而自行恢复。既然敲击可以同时影响两个本振，那么它们的公共部分值得怀疑，也就是基准频率部分。

  频率基准与第三本振/第三混频器是装在一起的，位于YTO附近，拆开这部分倒是解答了我一个长久以来的困惑。

  这台仪器来的时候就看到机内贴了个小袋子。

  袋子里面是一颗“十字架”封装的射频晶体管，但一直没查到这是哪一部分上的。

  现在知道了，这是第三混频器的混频二极管，已经被前人用其它型号替代了。此外从框图还可以看出第三本振与100MHz频率基准共用同一个振荡器，这是一个晶振。

  测量100MHz频率基准输出，并敲击这个模块，可以看到输出频率有瞬时跳变，可达几MHz，这基本就把问题锁定到了晶振相关的电路上了。

  拆下这个模块检查，可见前人已经在这上面做了许多维修工作了。

  可以看到该模块上大量使用小封装的实心碳质电阻，这些电阻只有1N4148二极管那么大。在我初学电子的时候就被告诫不要使用这类电阻，它们是最差的。不知道Tek是否为了避免金属膜电阻的ESL问题而选择这些东西。

  检查晶振相关电路，板子上有一个空气微调电容是调节基准频率的，经过检查该电容焊接和接触都良好。但振荡晶体管的两颗电阻产生了较大的漂移，这两颗电阻也是碳质电阻，这让我考虑晶体管的直流工作点是否稳定？利用FFT分析仪的时域模式，测量晶体管的发射极和基极电压，可以看到随着敲击，这两处会产生几十mV的脉冲干扰（此处无图，忘了拍照）。但大体上可以怀疑电阻内部接触不良使得晶体管工作点变化而导致振荡频率漂移。于是R3042和R4046用新的电阻更换。

  电阻更换后，敲击不再导致频率漂移或噪声基线抖动。视频中谱线上的短暂峰值干扰可能是强力敲击导致的YTO瞬时漂移，应该不属于故障。