这些是901V试制第4版的测试图。参加内测的朋友收到的设备与这些图片接近或稍好一些,个别明显不良的地方还会调整。本帖文字和图片仅供爱好者交流探讨技术所用,谢绝任何商业评论。
901V大量采用软件校准技术,对硬件性能的要求没有古典设备苛刻。但它的硬件设计指标依然比901S严苛得多。用户能够直观察觉的是迹线噪声(或测量同一个被测件时,读数的随机波动)、幅度-相位非线性的显著改善。客观而言,901V相比中高档台式仪器有较大差距,在下面的图片中可以显著察觉。但它的性能对于常规现场应用而言是绰绰有余的。
1GHz杂散输出。60MHz-7GHz均由锁相环输出,存在较多的杂散。杂散主要由锁相环产生,功率放大器不是主要贡献者。由于采用超外差接收机,这些杂散对测量的准确度无影响(除非希望进行非线性测量),所以不必治理。
50MHz杂散输出。60MHz以下的信号由DDS产生。
50MHz输出的品质。如果希望换算为相噪,在光标读数基础上减30dB。
1GHz输出的品质,10~100KHz偏移的相噪均在-90dBc左右。用来测量的频谱仪安装有低相噪本振选件,对图上相噪无贡献。
1GHz输出的近端品质,读数为实际值。
5GHz输出的品质,30-100KHz偏移的相噪在-80dBc量级。
1端口的驻波。1端口内接电桥,该型电桥的驻波比通过式桥要大一些,机内接插件对驻波也有较大贡献。该测试可能不准确(虚大),因为驻波与第一混频器的驱动电平有关,而测试仪器并未与901V的本振进行同步触发。
2端口的驻波。由于内有电子开关,这些数值都必须在运行状态下测定。
这是用10dB衰减器模拟一个20dB附近的回波损耗。台式矢网测定的是同一个衰减器,并把曲线保持下来。
测试909F负载的图。系统校准时用的是同一只负载,所以直接看到了噪底。
测试另一支909F负载,与系统校准用的负载不是同一只,可见曲线波动减小并抬高。
测试一支普通负载(罗森博格),它的性能比校准负载差得多,可以测得光滑的曲线,最高处换算为驻波约1.12。
接短路器后的曲线,采用系统校准。
悬空端口时的曲线,此时采用用户校准,理论上比系统校准准确。
测定一支滤波器的反射,为了凸显仪器薄弱的一面,滤波器输出没有接匹配负载。
同样的滤波器在901V上,可以看到细节有一些差异。
增加1.2m的延长线,并在末端校准。校准后悬空端口的图。
用这个带有连接线的端口来测同一个滤波器,相比直接在仪器的端口上测,曲线上多了许多小的凸起。
同样的端口,测量一支3dB衰减器。
给台式矢网增加同样的电缆,校准以后悬空端口的情况。高频端的相位与901S在同等情况下有大约10度的旋转,这是校准件的修正值不统一导致的。校准件的参数对高频相位测量影响很大。
用台式矢网经连接线测量刚才那支3dB负载。
用台式矢网经连接线测量刚才那支滤波器。可以看到也存在波动,不过波动的方式与901V有一些区别。
考虑到波动可能是由于扫描速度较快,仪器吃进了不稳定的数值,减小分析带宽后再测量,波动得到改善。901V可以采用慢速模式来加以改善,但改不到这么光滑,因为波动并不完全因吃进未稳定的信号而引起,而是主要是源于射频电路的非线性。确切而言,是因为测量值(相位和幅度)随着吃进信号的幅度或相位的不同而发生不规则的变化,致使原点偏移。该误差不属于经典信号流图上可以描述的现象,难以通过校准模型消除,必须由硬件设计保障。当然,降低源反射、提高绝对定向性,有利于减小影响。
在插损模式自动调零。
然后测定一支衰减器在指定频率的插损。该衰减器的实际衰减量是20.1dB,901V测得的值此时偏大0.2dB。
对比测试一支空腔滤波器。可以看出这种滤波器在高频几乎完全泄漏。
这是2端口的输出幅度。在6.2GHz以下都在0dBm以上。901V没有采取额外的稳幅措施,因为就满足功能而言没有必要。但低频端的凹陷是不正常的,那是因为放大器的馈电电路有一些谐振,还需要调整。
下面是901V反射测试功能的低频性能,中心频率100KHz,起始频率为5KHz
首先是电桥绝对定向性
采用系统校准的相对定向性。系统校准的密度有限,在低频端不适用(开路曲线不归零),应当进行用户校准。
进行用户校准。
用户校准以后的相对定向性。
用户校准后的相位测量性能,这是一个重要的指标。在最低端(9kHz),开短路相位误差稍大。在稍高的频率,十分接近180度。
这是在进行环境试验。
由于待测机器本身发热,在开机状态下温度下不去,待测机器内部温度传感器最低只到-24度左右(点开看大图可以看到机内温度传感器的读数,此时环境温度-40℃),注意右侧线孔边缘的雪花。
忽然想看看喷点水进去是什么效果
迅速升温,雪花和冰块已经融化
升到70度,停风保温,待测机内发热,温度自己升到了80度
这是机器能正常工作的最高外部温度,继续升温液晶会可逆的失效。实际进行过85摄氏度的连续工作试验,并且带有电池、同时外接电源。除液晶无显示外,仪器基本正常工作(锁相环失锁率增加),降温后可以完全恢复正常。该试验已超过电池安全范围,切勿模仿。
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